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涂层测厚仪FI基体

涂层测厚仪铁基标准基体F1型,用于F1探头校零或作为基材配合标准试片使用,工作原理采用磁性法,当测头与校零基体接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量变化可导出覆盖层的厚度,以实现铁基体材料上涂层测厚的目的。

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    涂镀层测厚仪

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