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带延迟块探头

商品品牌:

天博平台科仪

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产品详情

  • 产品总述
  • 图文说明
  • 技术参数
  • 基本配置
  • 可选配置

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  • 总述
  • 图文
  • 参数
  • 标配
  • 选配
  • 产品概述

    天博平台工业超声波带延迟块探头,选用性能优越的压电材料晶片精心制成,穿透力强、信噪比高,具有良好的耐磨性,近表面分辨率极佳,散射噪声较小。关键制造工序采用专用设备与工装夹具,尽可能的排除人为因素的影响。可提供优质的定制解决方案,满足客户的特殊需求。天博平台带延迟块探头的延迟块可进行替换,有效延长探头寿命,被广泛的应用薄件检测及各种近表面缺陷检测,测厚等。使用符合国内外相关标准的测试设备和试块进行严格的校正,质检环节苛求完美,可提供与探头序列号唯一对应的实测回波波形图和频谱图,所有数据具有可追溯性,可根据客户需求提供距离波幅曲线证书,符合《EN12668-2》等国内外相关标准接口为Microdot。

    功能用途

    测厚; 

    近表面缺陷监测; 

    薄件检测。

    工作原理

    工作条件

    仪器特点

    操作方法及注意事项

    仪器的保养与维护

  • 晶片尺寸 6mm
    频率 10/15(MHz)